光開(kāi)關在任何自動化光學(xué)測試系統中有著(zhe)不可替代的重要作用，是其中的核心器件，可以實現多個光學(xué)測試對(duì)象或者多種(zhǒng)光學(xué)性能(néng)的自動化測試，避免因多次插拔光連接器而造成(chéng)各種(zhǒng)測量不确定性。

Dimension為光學(xué)自動化測試系統提供了系列高性能(néng)OSW光開(kāi)關模塊，這(zhè)些模塊非常适用于實驗室或高嚴格的制造生産環境，配合Dimension的通用光學(xué)測試平台，OSW光開(kāi)關可以在程序控制下自動路由光信号，支持對(duì)多通道(dào)和多個光學(xué)器件進(jìn)行并行測量，顯著減少測試時(shí)間，從而提升測試儀器的使用效率，降低整體測試成(chéng)本。

主要優勢

• 可編程，支持時(shí)間、按鍵和程序控制多種(zhǒng)方式切換                  

• 低插入損耗，低偏振相關損耗，通道(dào)一緻性好(hǎo)

• 高可重複性，使用壽命超過(guò)1000萬次                                     

• 切換時(shí)間短，低于30ms

 • 平台+模塊化設計                                                               

 • 支持遠程控制等多種(zhǒng)控制方式

主要應用

• 光路切換                                                                   

• 光環路保護和切換

• 光纖網絡遠程監控                                                    

 • 光器件測試與研究

可編程，支持多種(zhǒng)觸發(fā)方式

OSW光開(kāi)關通過(guò)編程功能(néng)可以靈活設置光路切換觸發(fā)方式，可以通過(guò)外部 TRIG信号，等待設定時(shí)間或者觸摸屏、實體按鍵等多種(zhǒng)方式觸發(fā)光開(kāi)關切換，為後(hòu)續自動化程序開(kāi)發(fā)靈活提供各種(zhǒng)接口

高可重複性

OSW光開(kāi)關的切換次數可以達到(dào)1000萬次，MEMS光開(kāi)關可以達到(dào)10億次。插入損耗随機切換100次的重複性小于0.02dB，為用戶提供高度可靠的光路^［1］ 

低插入損耗，低偏振相關性

通道(dào)一緻性好(hǎo)各通路插入損耗小于1.0dB，偏振相關損耗小于0.05dB^［2］。。

平台+模塊化設計，支持多種(zhǒng)控制方式

Dimension的通用測試平台，可以兼容包含OSW光開(kāi)關在内的多種(zhǒng)功能(néng)測試模塊，具有可熱插拔、可編程、可擴展性強、易于維護和管理、綜合成(chéng)本低等顯著優勢。支持網絡、USB、觸摸屏和實體按鍵等多種(zhǒng)控制方式。

性能(néng)指标

訂購信息

備注;

        ［1］機械式光開(kāi)關切換壽命大于1000萬次 ，MEMS切換壽命大于10億次。

        ［2］不包括連接器引入的插入損耗，插入損耗和光開(kāi)關端口數有關，機械式光開(kāi)關的插入損耗見下表。機械式偏振相關損耗小于0.05dB，MEMS小于0.1dB。

［3］根據光開(kāi)關端口數模塊有單插槽、雙插槽和多插槽，其中多插槽的寬度尺寸是單插槽寬度的疊加。